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TLD 3500 热释光辐照食品检测仪
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SPM300系列半导体参数测试仪
设备概览基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪,具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析,空间分辨率< 800nm (典型值),也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性
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SPM600系列半导体参数分析仪
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑
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TLD 3500 热释光辐照食品检测仪
。技术参数: 系统配置1) TLD 3500热释光辐照食品检测仪2) 辐照食品检测用高温样品加热盘3) 电脑4) 激光打印机5) LiF Mg Ti热释光剂量元件6) 样品杯7) 测量软件和计算软件8
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NIE-3500(M)离子束清洗系统
NIE-3500(M)离子束清洗系统:是一款手动放片/取片,但工艺过程为全自动计算机控制的紧凑型独立的立柜式离子束刻蚀系统,可以用于表面清洗、表面处理、离子铣。
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NIE-3500(M)离子束清洗系统
NIE-3500(M)离子束清洗系统:是一款手动放片/取片,但工艺过程为全自动计算机控制的紧凑型独立的立柜式离子束刻蚀系统,可以用于表面清洗、表面处理、离子铣。
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SCIEX Triple Quad™ 3500 质谱系统
经典传承的AB SCIEX Triple Quad™ 3500质谱系统 从今天起…助力您实验室的成功 您所需要的卓越性能 先进设计
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NIE-3500(A)全自动IBE离子束刻蚀
NIE-3500(A)全自动IBE离子束刻蚀:是一款自动放片/取片,并且工艺过程为全自动计算机控制的紧凑型独立的立柜式离子束刻蚀系统,可以用于表面清洗、表面处理、离子铣。
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NIE-3500(A)全自动IBE离子束刻蚀
NIE-3500(A)全自动IBE离子束刻蚀:是一款自动放片/取片,并且工艺过程为全自动计算机控制的紧凑型独立的立柜式离子束刻蚀系统,可以用于表面清洗、表面处理、离子铣。
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半导体器件参数测试仪系统
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